#EM-Tec TE3 t-EBSD 홀더 키트 (20°/70°) -
  TEM/FIB Lift-Out Grid 3개 장착용 (M4)

* 제품소개

EM-Tec TE3는 Transmission Electron Backscatter Diffraction (t-EBSD) 분석을 위해 설계된 전용 시편 홀더 키트입니다.
최대 3개의 TEM Grid 또는 FIB Lift-Out Grid를 장착할 수 있으며,
20° 및 70° 분석 각도를 제공하여 고해상도 결정방위 분석 및 미세조직 평가에 최적화되어 있습니다.

본 제품은 M4 나사 체결 방식으로 설계되어 다양한 SEM 스테이지 및 시료 홀더 시스템에 안정적으로 장착할 수 있습니다.





 

* 주요 특징

✔ t-EBSD 분석 전용 설계

✔ 20° / 70° 분석 각도 지원

✔ 최대 3개의 TEM Grid 또는 FIB Lift-Out Grid 장착 가능

✔ FIB Lamella 시편 분석에 최적

✔ M4 나사 체결 방식

✔ 시편 위치 재현성 및 안정성 향상

✔ 고분해능 결정방위 분석 지원

✔ 다양한 SEM 및 FIB-SEM 시스템과 호환
 

* 제품 사양

* 적용 분야

• t-EBSD 분석
• Transmission Kikuchi Diffraction (TKD)
• FIB Lift-Out Lamella 분석
• 반도체 단면 분석
• 나노소재 연구
• 금속 및 세라믹 결정방위 분석
• 배터리 및 전자재료 연구

* 사용 방법

1. TEM Grid 또는 FIB Lift-Out Grid를 홀더에 장착합니다.
2. 분석 목적에 따라 20° 또는 70° 위치를 선택합니다.
3. M4 타입 스테이지 또는 어댑터에 체결합니다.
4. SEM 챔버에 장착 후 t-EBSD 분석을 수행합니다.

* 제품 장점

EM-Tec TE3는 t-EBSD 분석 시 최적의 시편 기하학적 조건을 제공하여 고품질 패턴 획득을 지원합니다.
특히 FIB로 제작된 초박막 Lamella 시편 분석에 적합하며,
기존 EBSD보다 높은 공간 분해능으로 나노스케일 결정 구조 및 결정방위 정보를 획득할 수 있습니다.

또한 최대 3개의 시편을 동시에 장착할 수 있어 분석 효율을 향상시키고 시편 교체 시간을 줄여줍니다.
 

* 추천 대상

✔ t-EBSD / TKD 사용자

✔ FIB-SEM 운영자

✔ 반도체 분석 연구소

✔ 배터리 및 에너지 소재 연구자

✔ 금속 및 재료 분석 연구실

✔ 대학 및 정부출연연구기관

✔ 공동기기센터
 

# 최대 3개의 TEM/FIB Grid를 장착할 수 있는 M4 타입 t-EBSD 전용 홀더!
   고분해능 결정방위 분석을 위한 최적의 솔루션입니다.