#EM-Tec TE3 t-EBSD 홀더 키트 (20° / 70°) - TEM/FIB Lift-Out Grid 3개 장착용

* 제품소개

EM-Tec TE3는 Transmission Electron Backscatter Diffraction (t-EBSD) 분석을 위해 설계된 전용 홀더 키트입니다.
최대 3개의 TEM Grid 또는 FIB Lift-Out Grid를 장착할 수 있으며,
20° 및 70° 분석 각도를 제공하여 고품질 t-EBSD 데이터 획득을 지원합니다.

t-EBSD는 기존 EBSD 대비 더 높은 공간 분해능을 제공하여 나노구조 재료, 박막 및 반도체 시편 분석에 널리 활용되고 있습니다.






 

* 주요 특징

✔ t-EBSD 분석 전용 설계

✔ 20° 및 70° 분석 각도 지원

✔ 최대 3개의 TEM Grid 또는 FIB Lift-Out Grid 장착 가능

✔ FIB 제작 Lamella 분석에 최적

✔ 안정적인 시편 고정 및 위치 재현성 제공

✔ 표준 Pin 타입으로 다양한 SEM 장비와 호환

✔ 고분해능 결정방위 분석 지원
 

* 제품 사양

* 적용 분야

• t-EBSD 분석
• FIB Lift-Out Lamella 분석
• TEM 시편 분석
• 나노소재 연구
• 반도체 및 전자재료 분석
• 금속 및 세라믹 결정방위 분석
• 배터리 소재 연구

* 사용 방법

1. TEM Grid 또는 FIB Lift-Out Grid를 홀더에 장착합니다.
2. 분석 목적에 따라 20° 또는 70° 위치를 선택합니다.
3. SEM 챔버에 장착 후 t-EBSD 분석을 수행합니다.
4. 고분해능 결정방위 및 미세조직 정보를 획득합니다.

* 제품 장점

EM-Tec TE3는 t-EBSD 분석에 최적화된 구조를 제공하여 시편 위치 정렬을 용이하게 하고, 분석 재현성을 향상시킵니다.
특히 FIB로 제작된 초박막 Lamella 시편 분석에 적합하며,
기존 EBSD보다 높은 공간 분해능으로 나노스케일 결정 구조 분석이 가능합니다.
 

* 추천 대상

✔ t-EBSD 사용자

✔ FIB-SEM 운영자

✔ 반도체 분석 연구소

✔ 배터리 및 에너지 소재 연구자

✔ 금속 및 재료 분석 연구실

✔ 대학 및 정부출연연구기관

✔ 공동기기센터
 

# 최대 3개의 TEM/FIB Grid를 장착할 수 있는 t-EBSD 전용 홀더!
   고분해능 결정방위 분석을 위한 최적의 솔루션입니다.