-  초고해상도 표면형상측정 프로브

-  Non-Contact / True Non-Contact / Tapping 모드용

-  실리콘 팁 첨단에 싱글 카본 스파이크 팁 형성

-  캔틸레버 팁면과 반사면에 Au 코팅후 팁 끝단에 DLC (Diamond Like Carbon) 재질 Spike tip

-  프로브 칩에 Groove가 있어 Alignment Chip과 함께 사용가능

-  장비 제작사별 마운팅 옵션 선택가능

-  사용가능 AFM/SPM 장비:

  AFMWorkShop

  A.P.E.Research

  Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI

  Hitachi / Seiko

  Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI

  NanoFocus

  NanoInk

  Oxford / Asylum

  Park Systems / PSIA

  Probes

  등. 모든 상용화 장비

-  Au (골드) 70nm 두께 팁면, 반사면 코팅 후, 팁면 DLC Spike 성장