-  가장 일반적인 전기적 특성평가용 프로브

-  EFM / C-AFM / SSPM / SKPM / SSRM / PFM / Lift 모드 측정

-  Contact과 Soft Non-Contact 구동 가능한 (75kHz / 3N/m) 사양

-  캔틸레버 팁면과 반사면에 Pt 코팅

-  프로브 칩에 Groove가 있어 Alignment Chip과 함께 사용가능

-  장비 제작사별 마운팅 옵션 선택가능

-  사용가능 AFM/SPM 장비:

  AFMWorkShop

  A.P.E.Research

  Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI

  Hitachi / Seiko

  Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI

  NanoFocus

  NanoInk

  Oxford / Asylum

  Park Systems / PSIA

  Probes

  등. 모든 상용화 장비

-  Pt (플레티늄) 30nm 두께 팁면, 반사면 전도성 코팅