#Double 45°/90° Angled SEM Pin Stub Ø25.4mm (Aluminium)

* 제품소개

Double 45°/90° Angled SEM Pin Stub은 SEM(주사전자현미경) 분석 시 시료를 45° 또는 90° 각도로 관찰할 수 있도록 설계된 특수 알루미늄 스터브입니다.
하나의 스터브에서 두 가지 각도를 제공하여 단면, 표면 형상 및 입체 구조 관찰에 매우 유용하며, 다양한 시료의 분석 효율을 향상시킵니다.
 

* 주요 특징

✔ 45° 및 90° 이중 각도 설계

✔ 시료의 측면 및 단면 관찰에 최적

✔ 고품질 알루미늄 소재 적용

✔ 우수한 전기전도성 제공

✔ 표준 SEM Pin 장착 방식 적용

✔ 시료 장착 및 교체가 간편

✔ 다양한 SEM 장비와 호환 가능
 

* 제품 사양

* 적용 분야

• 주사전자현미경(SEM) 분석
• 단면(Cross Section) 관찰
• 입자 및 분말 분석
• 전자부품 및 반도체 분석
• 섬유 및 복합재료 분석
• 배터리 및 신소재 연구

* 사용 방법

1. 시료를 45° 또는 90° 장착면에 부착합니다.
2. SEM 스테이지에 스터브를 장착합니다.
3. 분석 목적에 따라 적절한 각도를 선택하여 관찰합니다.
4. 단면 및 측면 이미지를 효율적으로 획득할 수 있습니다.

* 제품 장점

Double 45°/90° Angled SEM Pin Stub은 일반 평면 스터브로 관찰하기 어려운 시료의 측면, 단면 및 입체 구조를 효과적으로 분석할 수 있도록 설계되었습니다.
별도의 tilting(틸팅) 없이도 다양한 관찰 각도를 제공하여 작업 시간을 단축하고 분석 효율을 높여줍니다.
 

* 추천 대상

✔ SEM 사용자

✔ 단면 분석 연구자

✔ 반도체 및 전자재료 연구소

✔ 배터리 소재 연구소

✔ 대학 및 정부출연연구기관

✔ 품질관리 및 분석 담당자
 

45°와 90° 두 가지 관찰 각도를 제공하는 특수 SEM 스터브
시료의 단면과 측면 분석을 더욱 쉽고 정확하게 수행할 수 있습니다.